ChromaLine 카메라를 사용한 비접촉 측정
MC2 라인업
비전 시스템 은 두가지 기능을 수행합니다:
- 샘플 소재 표면을 우수한 품질로 이미지화
- 해당 이미지를 정제하여 샘플의 형태 및 질감을 감지하고 분석
이미지 처리 장치가 더욱 고도화되고 있으나, 현재 비전시스템의 한계는 초점의 심도(dof)가 매우 얕다는 것입니다. (NA값에 따라 100um 이내).
이러한 한계로 인해, 샘플을 Z축 방향으로 더욱 폭넓게 분석하기 위해서는 비싸고 복잡한 Z축 스캐닝 시스템 및 자동초점 메커니즘을 가지는 장비가 필요합니다.
ChromaLine 카메라는 Chromatic confocal 현미경으로 불리며, 깊은 초점 심도(dof, 최대 수mm)가 활용한 광학 시스템을 설계할 수 있는 기술이 적용되었습니다.
ChromaLine 카메라를 사용한 광학 시스템으로 초점 심도(dof) 범위 이내에 있는 샘플을 측정하면 매우 선명하고 고품질의 이미지를 획득할 수 있습니다.
ChromaLine 카메라는 컬러 코딩 기술과 기존 Confocal 공초점 현미경의 장점이 결합된 신제품입니다. Chromatic confocal 공초점 현미경은 가시광선을 분출하는 슬릿, 고품질 Chromatic 렌즈, 빔 분리기 및 4K 라인 카메라로 구성됩니다.
- 백색광을 반사할 수 있는 모든 소재 측정 가능(금속, 유리, 플라스틱, 페인트 필름, 액체)
- 패시브 부품으로 구성된 광학 헤드를 사용하여 산업 현장에 최적화
- 고속 측정 라인 카메라 : 초당 200,000라인까지 측정 가능
- 마이크로미터 단위 측면 분해능을 적용하여 정밀한 검사
- AOI: OEM을 위한 자동 광학 검사
품번 |
|
MC2-702-N1 |
MC2-704-N1 |
MC2-708-N1 |
MC2-706-N2 |
MC2-709-N1 |
품명 |
Unit |
NanoView (new) |
MicroView |
WireView |
DeepView (mk2) |
SuperView |
측정 라인 길이 |
Mm |
1,34 |
1,8 |
1,51 |
4,2 |
12,85 |
초점 심도 |
µm |
120 |
500 |
900 |
2600 |
2000 |
작동 거리 |
Mm |
7,4 |
10,1 |
7,8 |
19,5 |
11,3 |
배율 |
|
17,3 |
12,9 |
15,6 |
5,6 |
1,8 |
조리개 수(NA값) |
|
0,75 |
0,5 |
0,75 |
0,37 |
0,33 |
샘플 표면 경사각 |
° |
43 |
30 |
46 |
20 |
17 |
샘플 픽셀 사이즈 |
µm |
0,43 |
0,58 |
0,49 |
1,35 |
4,1 |
센서헤드 HW길이 |
Mm |
421,6 |
412,8 |
468 |
400,5 |
370 |
센서헤드 HW직경 |
Mm |
50 |
50 |
70 |
60 |
60 |
센서헤드 HW무게 |
G |
5300 |
5200 |
5800 |
5850 |
5600 |
품번 |
|
MC2-702-N1 |
MC2-704-N1 |
MC2-708-N1 |
MC2-706-N2 |
MC2-709-N1 |
품명 |
Unit |
NanoView (new) |
MicroView |
WireView |
DeepView (mk2) |
SuperView |
측정 라인 길이 |
Mm |
1,34 |
1,8 |
1,51 |
4,2 |
12,85 |
초점 심도 |
µm |
120 |
500 |
900 |
2600 |
2000 |
작동 거리 |
Mm |
7,4 |
10,1 |
7,8 |
19,5 |
11,3 |
배율 |
|
17,3 |
12,9 |
15,6 |
5,6 |
1,8 |
조리개 수(NA값) |
|
0,75 |
0,5 |
0,75 |
0,37 |
0,33 |
샘플 표면 경사각 |
° |
43 |
30 |
46 |
20 |
17 |
샘플 픽셀 사이즈 |
µm |
0,43 |
0,58 |
0,49 |
1,35 |
4,1 |
품번 |
MC2-050-N9 |
|
컨트롤러 |
MC2 |
|
적용 기술 |
Chromatic Confocal 공초점 현미경 |
|
광원 |
백색 LED 컴트롤러 외부에서 광원제공 |
|
광섬유 길이 |
5m |
|
사용 온도 |
0°C - 65°C |
|
보관 온도 |
-30°C - 70°C |
|
사용 습도 |
5% - 80% HR(표면 습기 발생하지 않는 환경) |
|
보호 등급 |
센서 헤드 IP 20 (ChromaLight) 컨트롤러 IP50 (Body) |
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관련법규 |
- |
|
라인 검출기 |
카메라 |
흑백 라인 스캔 카메라 |
픽셀 수 |
4096 |
|
사용된 픽셀 수 |
≈ 3100 |
|
픽셀 크기 |
7,5µm |
|
측정주파수 |
Up to 199,5kHz |
|
통신 |
Camera Link (x2) |
|
전원 공급 장치 |
5-24V DC |
|
전력 소모 |
5W |
|
Chromalight |
전원 공급 장치 |
100-240V AC |
최대/평소 전압 |
100W/60W |
|
치수 |
235,5mm x 184,2mm x 255,5mm |
|
무게 |
4kg |
- 차량용 유리
- 유리 소재 용기 및 포장 산업
- 전자 산업 (PCB)
- 반도체 산업 (silicon wafer; Edge)
- 표면 스크래치 및 디그 검사
- R2R 투명 및 불투명 필름 측정, 어플리케이션(EV 배터리 필름)
- CCC 산업
- EV 산업(배터리)
- 로봇 공학
- 마이크로 역학
- 의료기기
- 항공 산업
- 시계 제조산업
ChromaLine 카메라는 Nano, Micro, Wire, Deep, SuperView의 5가지 버전으로 제공됩니다
높은 NA값(0.7) 대비 최장 12.5mm까지 측정 라인 너비가 확장 가능하며, 샘플 최소 분해능(픽셀 사이즈)은 0.43 µm²입니다!
측정 주파수는 최대 199,500라인/초 입니다.
ChromaLine 카메라 버전 사양은 OEM 요청에 맞춰 주문제작이 가능합니다
BROCHURES AND MANUALS
브로셔 | 데이타 시트 | |
---|---|---|
영어 |
STIL - General catalogue: (13.23MB)
|
MC2 SERIES: (887.01kB)
|
일본어 |
STIL - General catalogue: (21.22MB)
|
- |
간체 중국어 |
STIL - General catalogue: (18.78MB)
|
- |