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ウェハー欠陥の検出

半導体製造において製造工程の各段階の品質を監視・管理する手段として計測とウェハー欠陥検出が、不可欠です。

Wafers defect's inspection
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検出用顕微鏡用として、2Dクロマティックコンフォーカルラインカメラも用意されています。超高解像度と深い被写界深度が必要なアプリケーションでは、Z軸方向に完璧なフォーカスが得られます。このような性能から、このラインカメラはウェハーエッジやパッケージング工程などの欠陥検査に最適なソリューションとなっています。このタイプのセンサーはいずれも、計測/検査機械の中に組み込むことができます。マーポスとSTILの数十年にわたる経験が、カスタマイズされたソリューション専用の光学設計に活かされています。

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