詳細
検出用顕微鏡用として、2Dクロマティックコンフォーカルラインカメラも用意されています。超高解像度と深い被写界深度が必要なアプリケーションでは、Z軸方向に完璧なフォーカスが得られます。このような性能から、このラインカメラはウェハーエッジやパッケージング工程などの欠陥検査に最適なソリューションとなっています。このタイプのセンサーはいずれも、計測/検査機械の中に組み込むことができます。マーポスとSTILの数十年にわたる経験が、カスタマイズされたソリューションや専用の光学設計に活かされています。
利点
- 0.4 μm x 0.4 μmの最小横方向分解能
- 大きな傾角:+/-45°、開口数0.75
- 最大199,500ライン/秒
- より深い被写界深度(完璧なフォーカス)
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BROCHURES AND MANUALS
パンフレット | |
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英語 |
SEMICONDUCTORS: (2.27MB)
STIL - General catalogue: (13.23MB) |
イタリア語 |
SEMICONDUCTORS: (2.63MB)
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ドイツ語 |
SEMICONDUCTORS: (2.28MB)
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ロシア語 |
SEMICONDUCTORS: (2.23MB)
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日本語 |
SEMICONDUCTORS: (2.38MB)
STIL - General catalogue: (21.22MB) |
韓国語 |
SEMICONDUCTORS: (7.41MB)
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中国語 (Simplified Chinese) |
STIL - General catalogue: (18.78MB)
SEMICONDUCTORS: (5.06MB) |