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Messsystem für Exzenterwellen

FENAR™ X

Das Fenar X dient bei der Kontrolle von Exzenterwellen zur Durchmessermessung von Exzentern mit glatter Oberfläche. Dieses Messgerät zeichnet sich aus durch kompaktes Design, Bedienerfreundlichkeit und Flexibilität und ist damit ideal für den Einsatz bei allen Schleifbearbeitungen an Exzenterwellen auf modernen Orbitalschleifmaschinen.

Messsystem für Exzenterwellen
BESCHREIBUNG

Das Fenar X dient zur kontinuierlichen Kontrolle von Exzenterdurchmessern und beschreibt dank seines Nachlaufsystems einer Kreisbahn um die Rotationsachse. Das System überwacht die Durchmesseränderung am Werkstück und sendet die entsprechende Information an die Schleifmaschine. Die Bearbeitung kann damit so angepasst werden, dass der gewünschte Werkstückdurchmesser erreicht wird.  

Fenar X ist äußerst flexibel und garantiert auch bei hohen Umdrehungen (300 1/min.) stabile Messungen. Die vom System erzeugten Signale werden an eine elektronische Steuereinheit gesendet und dort in kürzester Zeit verarbeitet (Wiederholrate 0,5 ms).

NUTZEN
  • Bessere Fertigungsqualität (weniger Ausschuss)
  • Präzisionsmessung
  • Kompaktes Design
  • Integration in die Werkzeugmaschine
  • Sehr zuverlässig und robust
  • Maximale Flexibilität
TECHNISCHE DATEN Sämtliche technischen Daten finden Sie unter DOWNLOAD in der entsprechenden Tabelle.
Download

PROSPEKTE UND HANDBÜCHER

Prospekt
Englisch FENAR X: (458.46kB)
Italienisch FENAR X: (470.88kB)
Deutsch FENAR X: (336.11kB)
Französisch FENAR X: (469.73kB)
Spanisch FENAR X: (469.25kB)
Japanisch FENAR X: (375.91kB)
Vereinfachtes Chinesisch FENAR X: (577.19kB)

TECHNICAL DOCUMENTS

Tabelle mit technischen Daten
Englisch (55.37kB)
Italienisch (53.95kB)
Deutsch (54.20kB)
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