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半导体和蓝宝石晶圆的研磨、抛光和化学机械抛光

这些操作十分关键,因为需要严格控制晶圆的总厚度差和表面光洁度。

Semiconductor and sapphire wafers's lapping, polishing and CMP precesses
描述

制造晶圆的材料可为硅、蓝宝石、砷化镓、碳化硅等材质,生产中需要进行精密的表面处理。打磨、研磨、化学机械抛光不同直径的基体,确保晶圆前沿的局部和整体尺寸都达到要求。
研磨和抛光是关键:这步加工耗时长,必须严格控制晶圆的总厚度差。
马波斯红外线传感器可在这步关键操作中和操作后立即检测厚度。因此,可在任何损耗件磨损情况下,严格控制加工过程。
马波斯的检测传感器还能严格控制振动干扰。

优势
  • 研磨期间,精密测量硅、蓝宝石、碳化硅和氮化镓晶圆厚度,分辨率可达纳米级
  • 在整个加工过程中控制晶圆厚度,在正确的时间停止加工
  • 测量结果与护垫磨损量无关
  • 振动检测可达理想的表面光洁度
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