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Sistema di Misura In-Process per Alberi Eccentrici

FENAR™ X

Nel campo applicativo della misura di alberi eccentrici, Fenar X è il sistema che permette di misurare i diametri eccentrici con superficie liscia. Questo sistema di misura è in grado di risolvere ogni problema applicativo presentato dalle moderne macchine orbitali per alberi eccentrici grazie alla sua compattezza, semplicità e flessibilità.

Sistema di Misura In-Process per Alberi Eccentrici
DESCRIZIONE

Fenar X, grazie alla sua cinematica, consente un monitoraggio continuo della misura del diametro eccentrico in tutta la sua orbita attorno all’asse di rotazione: il sistema controlla l’asportazione del materiale e fornisce le informazioni alla macchina rettificatrice che può gestire il ciclo di lavorazione fino al raggiungimento della quota finale del pezzo.

Fenar X consente una grande flessibilità operativa, garantendo stabilità della misura fino ad alte velocità di rotazione (300 RPM). I segnali generati dal misuratore, vengono inviati ad un elettronica di controllo che garantisce una massima rapidità di elaborazione (un campionamento ogni  0,5 msec).

VANTAGGI
  • Maggiore qualità del processo produttivo (meno scarti)
  • Alta precisione di misura
  • Compattezza
  • Integrabilità
  • Alta affidabilità e robustezza
  • Alta flessibilità
SPEC. TECNICHE

Le specifiche tecniche si trovano nella tabella scaricabile dalla sezione DOWNLOAD

Download

BROCHURES AND MANUALS

Catalogo
Inglese FENAR X: (458.46kB)
Italiano FENAR X: (470.88kB)
Tedesco FENAR X: (336.11kB)
Francese FENAR X: (469.73kB)
Spagnolo FENAR X: (469.25kB)
Giapponese FENAR X: (375.91kB)
Cinese Semplificato FENAR X: (577.19kB)

TECHNICAL DOCUMENTS

Tech Spec Table
Inglese (55.37kB)
Italiano (53.95kB)
Tedesco (54.20kB)
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