Sistema di Misura In-Process per Alberi Eccentrici
FENAR X
Nel campo applicativo della misura di alberi eccentrici, Fenar X è il sistema che permette di misurare i diametri eccentrici con superficie liscia. Questo sistema di misura è in grado di risolvere ogni problema applicativo presentato dalle moderne macchine orbitali per alberi eccentrici grazie alla sua compattezza, semplicità e flessibilità.
Fenar X, grazie alla sua cinematica, consente un monitoraggio continuo della misura del diametro eccentrico in tutta la sua orbita attorno all’asse di rotazione: il sistema controlla l’asportazione del materiale e fornisce le informazioni alla macchina rettificatrice che può gestire il ciclo di lavorazione fino al raggiungimento della quota finale del pezzo.
Fenar X consente una grande flessibilità operativa, garantendo stabilità della misura fino ad alte velocità di rotazione (300 RPM). I segnali generati dal misuratore, vengono inviati ad un elettronica di controllo che garantisce una massima rapidità di elaborazione (un campionamento ogni 0,5 msec).
- Maggiore qualità del processo produttivo (meno scarti)
- Alta precisione di misura
- Compattezza
- Integrabilità
- Alta affidabilità e robustezza
- Alta flessibilità
Le specifiche tecniche si trovano nella tabella scaricabile dalla sezione DOWNLOAD
BROCHURES AND MANUALS
Catalogo | |
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Inglese |
FENAR X: (458.46kB)
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Italiano |
FENAR X: (470.88kB)
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Tedesco |
FENAR X: (336.11kB)
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Francese |
FENAR X: (469.73kB)
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Spagnolo |
FENAR X: (469.25kB)
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Giapponese |
FENAR X: (375.91kB)
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Cinese Semplificato |
FENAR X: (577.19kB)
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TECHNICAL DOCUMENTS
Tech Spec Table | |
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Inglese |
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Tedesco |
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