由于产品设计的演变往往与技术、复杂的形状和外观相匹配，因此市场对精度和质量的要求越来越高。
因此，测量和质量控制正朝着使用非接触式解决方案的方向发展，以实现高精度标准。
STIL光谱共焦是一种用于非接触式光学测量的独特技术，可满足车间环境（如实验室）中最苛刻的应用。
ZENITH：性能稳固、易于安装、操作简单
ZENITH是工业环境中光谱共焦控制器的全新选择。可提供不同的配置，拥有简单的 SDK 或专有的协议命令，它非常易于集成到机器中。
ZENITH控制器的柔性测量，可以将被测产品造成损害的可能性降低到零。基于以太网通讯， ZENITH可以在非接触的情况下实现高精度的测量，而不会对被测产品造成任何损坏。
ZENITH框架紧凑，结构稳固，专为7天24小时全天候使用而设计。
ZENITH能够在各种类型的材料和物体表面进行超高分辨率的距离和厚度测量，包括反射性材料。它可为多种应用环境和各种表面反射提供解决方案：透明的或不透明的，高光或漫反射。
ZENITH与EVEREST光学笔系列相结合，可以实现具有大角度柔性测量，能够测量和评估各种复杂结构的轮廓。
高频率采样是 ZENITH 与编码器（最多 5 个）结合用于外部测量同步的动态应用的理想选择之一。
ZENITH的控制器可兼容所有MARPOSS STIL光学笔：CL-MG、OP、ENDO和EVEREST，可实现出色的计量表现（可达纳米级精度）。
ZENITH代表着多个行业的最佳解决方案：例如汽车、玻璃、电子和半导体行业，以及生物医学和电动汽车行业。