电性能测试：绝缘质量的局部放电测试

在不同工艺阶段对定子进行的绝缘测试是评估组件质量和可靠性的关键操作。EN 60034-18-41规定的标准测试（绝缘电阻、介电强度（Hi-Pot）和浪涌），虽然可识别出存在的缺陷并在高能量放电时会立即产生击穿，但他们无法预估相关组件的可靠性及其预期使用寿命。

另一方面，局部放电绝缘测试（PDIV测试）能够识别相间或相与定子主体之间的潜在绝缘缺陷，如绝缘纸上的细小损坏、导线或发卡上的绝缘层的划痕、相绝缘的缺陷以及不完美的浸渍。

这些缺陷通常不会立刻导致产品功能丧失。但是，随着时间的推移，它们可能会触发失效，尤其是当电机与变频器结合使用而产生电压峰值的时候，这种情况在电动汽车领域尤其常见。

虽然法规尚未规定，但局部放电测试已成为汽车行业内定子、绕线转子和成品电机组件的电性能质量控制的必要条件。它们自然地被推荐给所有的电机厂商，甚至是非汽车厂家——当这些应用必须保证高水平的质量和可靠性时。

E.D.C.自1998年以来开发的用于局部放电绝缘测试的方法基于电容耦合技术。与市场上通常使用的天线法方案相比，它是一种更复杂的技术，对外部电磁干扰不敏感，因此更适合在生产环境中使用。

局部放电测试（PDIV）功能由E.D.C.集成在一套完整的产品系列中，单一设备可集成所有不同的电性能和功能测试选项，这些测试选项通常是在设计阶段或量产阶段需要完成的。

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