arrow-left-2arrow-left-3arrow-left-4arrow-leftchronodiggdown-arrow--lineardown-arrowearthenvelopefacebookfacebook_ (2)facebook_forward-arrowforwardgooglehomeico-downloadico-linkindustries--1industries--10industries--10_oldindustries--2industries--3industries--4industries--5industries--6industries--6_oldindustries--7industries--8industries--9linkedinmailmarkernewspaperpadlockpage-arrow-leftpage-arrow-rightpage-listpencilpinterestplay-buttonprintersearchsocial-diggsocial-facebooksocial-googlesocial-instagramsocial-linkedinsocial-pinterestsocial-twittersocial-youtubestartelephonetwittertwitter_user

非接触式距离测量

STIL光谱共焦传感器可非接触式测量距离，应用广泛，包括线上测量或实验室测量。其测量应用包括： 

尺寸，位移，3D轮廓，微观几何，ISO25178-602标准下的非接触式粗糙度，波纹度，弯曲度，翘曲度

非接触式距离测量
优势


 

  • 高轴向分辨率：纳米级（nm）
  • 高横向分辨率：微米级（μm）
  • 光笔中仅有无源组件
  • 高信噪比
  • 支持不同类型样品
  • 可选测量范围广
  • 大数值孔径（NA）支持大斜率
  • 同轴（无«阴影»）
  • 无«斑点»
描述

马波斯STIL传感器有多个基准点，从单个测量点到沿直线或在区域内分布的多个测量点。

ChromaPoint光笔可互换，可在不同类型的应用中和不同表面反光率的应用中保持测量高灵活性、高可靠性和高适用性：例如透明、不透明、镜面、哑光表面。

下载

BROCHURES AND MANUALS

产品资料
英语 STIL - General catalogue: (13.23MB)
日本语 STIL - General catalogue: (21.22MB)
中文 (Simplified Chinese) STIL - General catalogue: (18.78MB)

产品

Chromapoint controller ZENITH 详细内容

ZENITH 控制器 - 非接触式测量与STIL控制器单元
Non Contact Measure With Chromapoint Controller 详细内容

CCS SERIES - 非接触式测量与STIL控制器单元
Multipoint controller Lightmaster 详细内容

LIGHTMASTER - 非接触式测量与多通道控制器
Chromaline sensor MPLS180-DM series 详细内容

MPLS180-DM 系列 - 线光谱传感器非接触式测量
关闭
关闭
关闭

请求信息

输入您的名
输入您的姓
输入公司名称
输入您的电子邮箱

为了使邮件能直接被发送给相关负责部门，请在下面列表中的选择对应的应用范围:

输入您的留言

在递交表格前，请您仔细阅读 欧盟第2016/679条 关于如何处理个人资料的条例。.

请接受相关隐私政策。
Top 联系我们