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Sistema de Medición In-Process para Ejes Excéntricos

FENAR™ X

En el campo de la inspección de ejes excéntricos, el sistema Fenar X fue diseñado para medir diámetros excéntricos lisos. Gracias al tamaño compacto, la simplicidad y la flexibilidad, este sistema de medida representa la solución ideal para todos los tipos de aplicación en problemas que afectan las modernas máquinas de rectificación con eje excéntrico orbital.

Sistema de Medición In-Process para Ejes Excéntricos
DESCRIPCIÓN

La configuración mecánica de Fenar X puede utilizarse para monitorizar la medida del diámetro excéntrico continuamente, por la órbita alrededor del eje de rotación: el sistema monitoriza el proceso de eliminación de material y ofrece la información relevante a la máquina de rectificación, permitiendo de esta manera gestionar el ciclo de mecanizado hasta el punto donde se obtiene el diámetro deseado de la pieza.

Fenar X es extremadamente flexible y garantiza la estabilidad de medida a velocidades de rotación elevadas (300 rpm). Las señales generadas por el medidor se envían a una unidad de control electrónica que garantiza la máxima velocidad de procesamiento (una muestra cada 0.5 mseg).

VENTAJAS
  • Aumento de la calidad de producción (reducción piezas descartadas)
  • Medida de elevada precisión
  • Dimensiones compactas
  • Integrabilidad
  • Elevadamente fiable y robusto
  • Muy flexible
ESPECIFICACIONES TÉCNICAS

Para conocer todas las características técnicas, consulte la tabla en la sección DESCARGAR

Descargar

BROCHURES AND MANUALS

Catálogo
Inglés FENAR X: (458.46kB)
Italiano FENAR X: (470.88kB)
Alemán FENAR X: (336.11kB)
Francés FENAR X: (469.73kB)
Español FENAR X: (469.25kB)
Japonés FENAR X: (375.91kB)
Chino simplificado FENAR X: (577.19kB)

TECHNICAL DOCUMENTS

Tabla de especificaciones técnicas
Inglés (55.37kB)
Italiano (53.95kB)
Alemán (54.20kB)

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