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Mesure d'épaisseur sans contact

Les capteurs confocaux chromatiques STIL sont conçus pour mesurer les épaisseurs sans contact, par transparence ou par différence de hauteur de marche et en vis-à-vis, dans tous les environnements tels que les industries en ligne ou les laboratoires.

Le principe consiste à mesurer la position d'un dioptre, c'est-à-dire l'interface entre deux surfaces d'indice de réfraction différent, et, simultanément, la position d'un autre dioptre. La différence entre les deux mesures de distance indique la mesure de l'épaisseur optique, dont on déduit l'épaisseur mécanique en multipliant par l'indice de réfraction du milieu traversé.

La mesure d'échantillons comprenant plusieurs couches est possible en utilisant la même méthode : le logiciel de mesure multicouche est disponible sur certains contrôleurs STIL.

Mesure d'épaisseur sans contact
AVANTAGES
  • Haute résolution axiale : À partir de l'échelle nanométrique (nm)
  • Haute résolution latérale : À partir de l'échelle micrométrique (µm)
  • Têtes optiques composées uniquement de composants passifs
  • Rapport signal/bruit élevé
  • Travaille sur tout type de matériaux, notamment le carbone noir, le verre, la céramique et les plastiques colorés ou blancs, le métal brut ou poli
  • Large choix de plages de mesure
  • Compatibilité avec les pentes raides grâce à la grande ouverture numérique (ON)
  • Coaxial (pas d'effet d'ombre)
  • Sans effet de speckle
DESCRIPTION

Les capteurs STIL sont composés de plusieurs références, d'un point de mesure à plusieurs points de mesure répartis le long d'une ligne ou dans un champ.

Les têtes optiques ChromaPoint sont interchangeables pour garantir la flexibilité, la fiabilité et l'adaptabilité pour tout type d'application et sur toute réflectivité de surface : transparente, opaque, diffusante, brillante.

Pour les échantillons transparents tels que le verre, la mesure de l'épaisseur minimale et les spécifications considérant le trajet à travers une surface ayant un indice de réfraction n=1,5 sont indiquées dans la fiche technique.

De la même manière, l'épaisseur maximale d'un échantillon transparent tel que le verre est à considérer en fonction de l'indice de réfraction.

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BROCHURES AND MANUALS

Brochure
Anglais STIL - General catalogue: (13.23MB)
Japonais STIL - General catalogue: (21.22MB)
Chinoise Simplifié STIL - General catalogue: (18.78MB)
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