Contrôle des défauts sans contact
Les systèmes de vision ont un double rôle : fournir une image de bonne qualité de la surface de l'échantillon au grossissement souhaité et traiter l'image afin de détecter et d'analyser certaines caractéristiques ou textures prédéfinies.
Bien que les unités de traitement soient de plus en plus puissantes, la principale limite des systèmes de vision actuels est leur très faible profondeur de champ (seulement quelques micromètres (µm), selon le grossissement et l'ouverture numérique). En raison de cette limitation, des systèmes de balayage en Z (stacking) coûteux et compliqués et/ou un mécanisme de mise au point automatique sont nécessaires pour visualiser des échantillons avec une plus grande extension Z ainsi que des échantillons en mouvement.
La solution d'inspection des défauts de la famille de produits STIL ChromaLine Camera offre une profondeur de champ cent fois plus grande que la solution de vision réelle, ce qui réduit la pression sur la solution de mise au point et la planéité de la translation/du support.
